DASH 大树半导体 · DASH Semiconductor

基板设计规范

DBC 与 AMB 基板设计规则。按此设计,图纸可直接投产。

1. 材料

陶瓷性能

陶瓷抗弯强度 (MPa)热导率 @20 °C (W/m·K)热膨胀系数 20–400 °C (ppm/K)介电常数 @1 MHz击穿强度 (kV/mm)杨氏模量 (GPa)密度 (g/cm³)
Si₃N₄(高导热)> 700≥ 802.6–2.99.0> 253103.22
Si₃N₄(标准)≥ 625≥ 652.6–2.98.0> 253103.17
AlN> 350> 1704.68.7> 153203.30
Al₂O₃ 96%≥ 400246.8–7.19.8> 153403.75

铜材

无氧高导铜(OFHC),纯度 99.99 %,20 °C 电导率 58 MS/m。

2. 厚度规格

陶瓷厚度 (mm)

厚度Si₃N₄AlNAl₂O₃
0.25●––
0.32●–●
0.38–●●
0.63–●●
1.00–●–

铜层厚度 (mm)

0.1270.200.250.300.400.500.801.20

正反面铜厚可以不同。其他陶瓷和铜厚可定制。

3. 布线规则

蚀刻后的铜层侧壁是斜的:线距在铜面顶部最窄,线宽在底部最宽。下表数值均以陶瓷侧(铜层底部)的图形为准。

陶瓷线宽(底部)线距边距d侧蚀 A,蚀刻因子 F = d / A

最小线距与线宽

铜厚 d (mm)最小线距 (mm)最小线宽 (mm)
0.1270.200.20
0.200.300.35
0.250.350.40
0.300.400.50
0.400.500.60
0.500.600.70
0.800.701.00

铜层到陶瓷边缘距离

铜厚 d (mm)最小边距 (mm)
0.10 – 0.250.20
0.30 – 0.500.30
0.800.50

蚀刻因子

铜厚 d (mm)F = d / A
0.10 – 0.30≥ 3.0
0.40 – 0.50≥ 2.5
0.80> 2.0

高压设计中,线距通常由爬电距离和局部放电要求决定,而不是蚀刻能力。告诉我们你的阻断电压,我们帮你核算。

4. 公差

蚀刻公差

铜厚 d (mm)公差 (mm)
0.10 – 0.15± 0.10
0.20 – 0.30± 0.15
0.40 – 0.50± 0.20
0.50 – 0.80± 0.25

正反面图形错位

铜厚 d (mm)错位 (mm)
≤ 0.30< 0.15
0.40 – 0.80< 0.20

外形公差(单颗尺寸 10 × 10 至 127 × 178 mm)

陶瓷厚度 (mm)公差 (mm)
≤ 0.38± 0.05
0.38 – 0.635± 0.15
≥ 0.635± 0.20

其他

  • 总厚度 (陶瓷 + 铜层):+5 % / −7 %
  • 翘曲度:取决于布线、尺寸和铜平衡,首批样品后确定。
  • 标准大板: 138 × 190 mm

5. 表面处理与阻焊

表面粗糙度

Rmax ≤ 50 µm · Ra ≤ 1.5 µm · Rz ≤ 10 µm (可定制更低粗糙度)

表面处理

处理方式厚度适用
裸铜—成本最低,到货后应尽快焊接或烧结
防氧化(OSP)—保护裸铜,便于存放
化学镀镍3–7 µm, 6–10 % P焊接和键合表现稳定
化学镍金(ENIG)Ni 3–7 µm, Au 0.01–0.1 µm保存期长,适合精细焊接
化学镀银0.1–1 µm银烧结首选

阻焊

项目规则
最小阻焊宽度≥ 0.20 mm
阻焊位置公差± 0.20 mm
阻焊最小间距≥ 0.20 mm
阻焊边缘到铜层边缘≥ 0.10 mm
耐热性≤ 288 °C / 30 s; ≤ 320 °C / 10 s

6. 文件与检查清单

可接受的文件

  • DXF 或 DWG,正反面铜层各一层,单位 mm
  • PCB 软件导出的 Gerber(RS-274X)
  • STEP 三维文件(可选)
  • 标注尺寸和技术要求的 PDF 图纸

发图前检查

  • ✓陶瓷类型和厚度
  • ✓正反面铜厚
  • ✓线距、线宽符合第 3 节表格
  • ✓边距符合第 3 节要求
  • ✓正反面铜面积大致平衡
  • ✓如需要,注明表面处理和阻焊
  • ✓数量和要求交期

以上为典型工艺能力,更严公差和其他厚度可按项目协商。